Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali uporabite sodobnejši brskalnik.
Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali uporabite sodobnejši brskalnik.
Repozitorij samostojnih visokošolskih in višješolskih izobraževalnih organizacij
Uvodnik
Iskanje
Brskanje
Statistika
Obvestila
Kontakti
Prijava
Izpis gradiva
A+
|
A-
|
|
SLO
|
ENG
Naslov:
Ion beam analysis of geometrically structured samples : doctoral dissertation
Avtorji:
ID
Jezeršek, David
(
Avtor
)
ID
Šmit, Žiga
(
Mentor
)
Več o mentorju...
Datoteke:
David_Jezersek_PhD.pdf
(6,37 MB)
MD5: 22DD42E1F58B6F60321F4B537E8785D0
Jezik:
Angleški jezik
Vrsta gradiva:
Doktorska disertacija
Tipologija:
2.08 - Doktorska disertacija
Organizacija:
MPŠ - Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana
Kraj izida:
Ljubljana
Kraj izvedbe:
Ljubljana
Založnik:
D. Jezeršek
Leto izida:
2011
Leto izvedbe:
2011
Št. strani:
XIV, 113 str.
PID:
20.500.12556/ReVIS-13577
UDK:
539
COBISS.SI-ID:
257786368
Datum objave v ReVIS:
10.04.2026
Število ogledov:
18
Število prenosov:
0
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
Kopiraj citat
Objavi na:
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.
Sekundarni jezik
Jezik:
Slovenski jezik
Naslov:
Analiza geometrijsko strukturiranih vzorcev z ionskim žarkom : doktorska disertacija
Nazaj