Repozitorij samostojnih visokošolskih in višješolskih izobraževalnih organizacij

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Ion beam analysis of geometrically structured samples : doctoral dissertation
Avtorji:ID Jezeršek, David (Avtor)
ID Šmit, Žiga (Mentor) Več o mentorju... Novo okno
Datoteke:.pdf David_Jezersek_PhD.pdf (6,37 MB)
MD5: 22DD42E1F58B6F60321F4B537E8785D0
 
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Doktorska disertacija
Tipologija:2.08 - Doktorska disertacija
Organizacija:MPŠ - Mednarodna podiplomska šola Jožefa Stefana
Kraj izida:Ljubljana
Kraj izvedbe:Ljubljana
Založnik:D. Jezeršek
Leto izida:2011
Leto izvedbe:2011
Št. strani:XIV, 113 str.
PID:20.500.12556/ReVIS-13577 Novo okno
UDK:539
COBISS.SI-ID:257786368 Novo okno
Datum objave v ReVIS:10.04.2026
Število ogledov:18
Število prenosov:0
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Sekundarni jezik

Jezik:Slovenski jezik
Naslov:Analiza geometrijsko strukturiranih vzorcev z ionskim žarkom : doktorska disertacija


Nazaj